專利名稱 用于光電探測(cè)器表面及界面的原位實(shí)時(shí)表征方法及系統(tǒng)
申請(qǐng)?zhí)?專利號(hào) CN201910721542.0 專利權(quán)人(第一權(quán)利人) 長(zhǎng)春工業(yè)大學(xué)
申請(qǐng)日 2019-08-06 授權(quán)日 2021-11-02
專利類別 授權(quán)發(fā)明 戰(zhàn)略新興產(chǎn)業(yè)分類 新一代信息技術(shù)
技術(shù)主題 光感測(cè)器|光電探測(cè)器|顯微成像|激光燈|拉曼光譜|光源|材料科學(xué)|半導(dǎo)體材料
應(yīng)用領(lǐng)域 拉曼散射
意向價(jià)格 具體面議
專利概述 本發(fā)明揭示了一種用于光電探測(cè)器表面及界面的原位實(shí)時(shí)表征方法及系統(tǒng)。所述原位實(shí)時(shí)表征方法包括:以激光光源對(duì)光電探測(cè)器進(jìn)行輻照和拉曼光譜掃描,以使所述光電探測(cè)器處于工作狀態(tài),采集拉曼光譜,并對(duì)獲得的拉曼光譜進(jìn)行分析處理,實(shí)現(xiàn)原位實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)光電探測(cè)器的界面結(jié)構(gòu)及載流子注入或提取的演變過(guò)程。所述系統(tǒng)包括:激光光源,用以對(duì)光電探測(cè)器進(jìn)行輻照;拉曼光譜采集單元,用以獲得工作狀態(tài)下的光電探測(cè)器內(nèi)部半導(dǎo)體材料的表面及界面結(jié)構(gòu)及組成的演變信息;檢測(cè)單元;分析處理單元。本發(fā)明利用拉曼技術(shù)及拉曼顯微成像技術(shù),原位探測(cè)器件的微觀界面及其缺陷、勢(shì)壘分布,揭示影響器件敏感性的內(nèi)在原因,從而從微觀角度精細(xì)調(diào)控器件的性能。
圖片資料 用于光電探測(cè)器表面及界面的原位實(shí)時(shí)表征方法及系統(tǒng)
合作方式 具體面議
聯(lián)系人 戚梅宇 聯(lián)系電話 13074363281