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  • 長波紅外成像驗(yàn)證設(shè)備

    功能:系統(tǒng)測試
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    儀器型號(hào):flir minicore lw f2
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    發(fā)布人:管理員
    詳情 details

    儀器設(shè)備檔案信息

    儀器名稱:長波紅外成像驗(yàn)證設(shè)備? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? 儀器型號(hào):flir minicore lwf2

    所屬單位:長春光學(xué)精密機(jī)械與物理研究所? ? ? ? ? 所屬區(qū)域中心:東北先進(jìn)制造與材料大型儀器區(qū)域中心?

    制造商名稱:flir system? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? 國別:瑞典

    購置時(shí)間:2015/12/10

    放置地點(diǎn):研發(fā)大廈? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? 儀器工作狀態(tài):正常

    儀器大類:室內(nèi)分析測試設(shè)備? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ?儀器中類:其他通用科學(xué)儀器設(shè)備

    儀器小類:其他

    聯(lián)系方式:光電聯(lián)盟秘書處? 袁維? ?18943195858

    ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ?鄭彥杰 17386866393


    儀器收費(fèi)信息

    樣品分類:光電設(shè)備? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ?分析項(xiàng)目:系統(tǒng)測試

    前處理標(biāo)準(zhǔn)名稱:用戶指定?

    分析項(xiàng)目標(biāo)準(zhǔn)名稱:用戶指定? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? 對外服務(wù)價(jià)格:樣品計(jì)費(fèi)

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